Une méthodologie consiste à suivre la voie consistant à augmenter la largeur à travers la plaquette monocristalline de 125 mm à 156 mm, et à augmenter la taille du module, comme un pseudo-carré de 158,75 mmmonocristallinplaquette ou carré pleinmonocristallinplaquette (diamètre de plaquette 223mm). le158,75 mmcarré pleinmonocristallinplaquette (diamètre de la plaquette 223mm) augmente la surface de la plaquette d'environ 3,1% par rapport au format M2, ce qui augmente la puissance d'un module à 60 cellules de près de 10Wc.
1 Propriétés matérielles
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Méthode de croissance | CZ | |
Cristallinité | Monocristallin | Techniques de gravure préférentielle（ASTM F47-88） |
Type de conductivité | type P | Napson EC-80TPN P/N |
dopant | Bore, Gallium | - |
Concentration en oxygène[Oi] | ≦8E+17 à/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentration de carbone[Cs] | ≦5E+16 à/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densité de fosse de gravure (densité de dislocation) | ≦500cm-3 | Techniques de gravure préférentielle（ASTM F47-88） |
Orientation de la surface | & lt;100>±3° | Méthode de diffraction des rayons X (ASTM F26-1987) |
Orientation des côtés pseudo carrés | & lt;010>,<001>±3° | Méthode de diffraction des rayons X (ASTM F26-1987) |
2 Propriétés électriques
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Résistivité | 0,5-1,5 cm | Système d'inspection de plaquettes |
MCLT (durée de vie du porteur minoritaire) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (avec niveau d'injection : 1E15 cm-3) |
3Géométrie
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Géométrie | Carré plein | |
Longueur du côté de la plaquette | 158,75 ± 0,25 mm | système d'inspection de plaquettes |
Diamètre de la plaquette | 223 ± 0,25 mm | système d'inspection de plaquettes |
Angle entre les côtés adjacents | 90° ± 0.2° | système d'inspection de plaquettes |
Épaisseur | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | système d'inspection de plaquettes |
TTV (variation d'épaisseur totale) | ≤27 µm | système d'inspection de plaquettes |
4 Propriétés de surface
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Méthode de coupe | DW | -- |
Qualité de surface | tel que coupé et nettoyé, aucune contamination visible, (huile ou graisse, empreintes digitales, taches de savon, taches de boue, taches d'époxy/colle ne sont pas autorisées) | système d'inspection de plaquettes |
Marques de scie / marches | ≤ 15µm | système d'inspection de plaquettes |
Arc | ≤ 40 µm | système d'inspection de plaquettes |
Chaîne | ≤ 40 µm | système d'inspection de plaquettes |
Ébrécher | profondeur ≤0.3mm et longueur ≤ 0.5mm Max 2/pcs; pas de puce anti-violence | Système d'inspection des yeux nus ou des plaquettes |
Micro fissures / trous | Interdit | système d'inspection de plaquettes |
étiquette à chaud: Plaquette solaire monocristalline carrée de type p, Chine, fournisseurs, fabricants, usine, fabriquée en Chine
