Les fabricants de panneaux solaires photovoltaïques ont officiellement commencé à s'efforcer d'établir une nouvelle norme de taille de plaquette de grande surface « M10 » (182 mm x 182 mm monocristallin de type p) afin de réduire les coûts de fabrication tout au long de la chaîne d'approvisionnement de l'industrie solaire, car le nombre de tailles de plaquette de grande surface a émergé ces dernières années.
1. Propriétés matérielles
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Méthode de croissance | CZ | -- |
Cristallinité | Silicium monocristallin | Techniques de gravure préférentielle（ASTM F47-88） |
Type de conductivité | type P | Napson EC-80TPN Testeur de référence |
dopant | Bore/Gallium | -- |
Concentration en oxygène [Oi] | ≤9E + 17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentration de carbone [Cs] | ≤ 4E + 16 at/cm3 | FTIR（ASTM F123-91） |
Densité des fosses de gravure (densité de dislocation) | 500cm-2 | Techniques de gravure préférentielle（ASTM F47-88） |
Orientation de la surface | & lt;100> ±3° | Méthode de diffraction des rayons X（ASTM F26-1987） |
Orientation des côtés pseudo carrés | & lt;010>,<001> ±3° | Méthode de diffraction des rayons X（ASTM F26-1987） |
2. Propriétés électriques
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Résistivité | 0,4-1,5 .cm | système d'inspection de plaquettes |
MCLT (Durée de vie du porteur minoritaire) | ≥50µs | Sinton BCT-400 QSSPC/Transitoire (avec niveau d'injection : 1E15 cm-3) |
3. Géométrie
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Géométrie | pseudo carré | -- |
Forme de bord biseauté | Rond | -- |
Longueur du côté de la plaquette | 182±0,25 mm | système d'inspection de plaquettes |
Diamètre de la plaquette | φ247±0,25 mm | système d'inspection de plaquettes |
Angle entre les côtés adjacents | 90° ± 0.2° | système d'inspection de plaquettes |
Épaisseur | 180﹢ 20/﹣10 µm 175﹢ 20/﹣10 µm 170﹢ 20/﹣10 µm 160﹢ 20/﹣10 µm 150﹢ 20/﹣10 µm Autre | système d'inspection de plaquettes |
TTV (variation d'épaisseur totale) | ≤ 28µm | système d'inspection de plaquettes |
4. Propriétés de surface
Propriété | spécification | méthode d'inspection |
Méthode de coupe | Scie à fil diamanté | -- |
Qualité de surface | comme coupé et nettoyé, aucune contamination visible, (l'huile ou la graisse, les empreintes digitales, les taches, les résidus d'époxy/colle ne sont pas autorisés) | système d'inspection de plaquettes |
Marques de scie | ≤ 15µm | système d'inspection de plaquettes |
Arc | ≤ 40 µm | système d'inspection de plaquettes |
Chaîne | ≤ 40 µm | système d'inspection de plaquettes |
Ébrécher | profondeur ≤0.3mm et longueur ≤ 0.5mm Max 2/pcs; pas de puce anti-violence | Système d'inspection des yeux nus ou des plaquettes |
Micro fissures / trous | Interdit | système d'inspection de plaquettes |