210mmx210mm M12 plaquette solaire en silicium monocristallin d’un diamètre de 295mm est 80,5% plus grande que la plaquette M2.
1 Propriétés des matériaux
propriété | spécification | Méthode d’inspection |
Méthode de croissance | Cz | |
cristallinité | Monocristallin
| Techniques de gravure préférentielles（ASTM F47-88） |
Type de conductivité | Type P | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant
| Bore, Gallium
| - |
Concentration en oxygène[Oi] | ≦8E+17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentration en carbone[Cs] | ≦5E+16 at/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densité de la fosse de gravure (densité de dislocation) | ≦500 cm-3 | Techniques de gravure préférentielles（ASTM F47-88） |
Orientation de la surface | <100>±3° | Méthode de diffraction des rayons X (ASTM F26-1987) |
Orientation des côtés pseudo carrés | <010>,<001>±3° | Méthode de diffraction des rayons X (ASTM F26-1987) |
2 Propriétés électriques
propriété | spécification | Méthode d’inspection |
résistivité | 0,5-1,5 Ωcm | Système d’inspection de plaquettes |
MCLT (durée de vie des transporteurs minoritaires) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (avec niveau d’injection: 1E15 Cm-3) |
3 géométrie
propriété | spécification | Méthode d’inspection |
géométrie | Carré complet | |
Longueur latérale de la plaquette | 210±0,25 mm | système d’inspection de plaquettes |
Diamètre de la plaquette | φ295±0,25 mm | système d’inspection de plaquettes |
Angle entre les côtés adjacents | 90° ± 0,2° | système d’inspection de plaquettes |
épaisseur | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | système d’inspection de plaquettes |
TTV (Variation totale de l’épaisseur) | ≤27 μm | système d’inspection de plaquettes |
4 Propriétés de surface
propriété | spécification | Méthode d’inspection |
Méthode de coupe | Dw | -- |
Qualité de surface | comme coupé et nettoyé, aucune contamination visible, (huile ou graisse, empreintes de doigts, taches de savon, taches de lisier, taches d’époxy / colle ne sont pas autorisées) | système d’inspection de plaquettes |
Marques de scie / marches | ≤ 15μm | système d’inspection de plaquettes |
arc | ≤ 40 μm | système d’inspection de plaquettes |
chaîne | ≤ 40 μm | système d’inspection de plaquettes |
puce | profondeur ≤0.3mm et longueur ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; pas de puce antiviolence | Système d’inspection à l’œil nu ou à la plaquette |
Microfisses / trous | Non autorisé | système d’inspection de plaquettes |
étiquette à chaud: p type 210mm plaquette solaire monocristalline, Chine, fournisseurs, fabricants, usine, fabriqué en Chine
